- نموذج المنتج SN74BCT8244ADW
- العلامة التجارية Texas Instruments
- RoHS Yes
- الوصف IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- تصنيف المنطق التخصصي
-
PDF
المخزون:1539
التفاصيل الفنية
- نوع التثبيت 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- عدد اللفات Surface Mount
- ملاحظة 8
- الجهد الكهربائي Scan Test Device with Buffers
- عزم الدوران - برغي 0°C ~ 70°C
- العرض 4.5V ~ 5.5V
- أقصى فولتية تيار متردد 24-SOIC
المنتجات ذات الصلة
IC CLOCK GENERATOR 24QFN
المخزون: 12876
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
المخزون: 0
