- نموذج المنتج SN74ABT8245DWR
- العلامة التجارية Texas Instruments
- RoHS Yes
- الوصف IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
- تصنيف المنطق التخصصي
-
PDF
المخزون:1500
التفاصيل الفنية
- نوع التثبيت 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- عدد اللفات Surface Mount
- ملاحظة 8
- الجهد الكهربائي Scan Test Device with Bus Transceivers
- عزم الدوران - برغي -40°C ~ 85°C
- العرض 4.5V ~ 5.5V
- أقصى فولتية تيار متردد 24-SOIC
المنتجات ذات الصلة
IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
المخزون: 38
SN74ABT8245 SCAN TEST DEVICES WI
المخزون: 146
