- Modèle de produit SN74LVTH18646APM
- Marque Texas Instruments
- RoHS Yes
- Description IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- Classification Logique spécialisée
Inventaire:1805
Détails techniques
- Type de montage 64-LQFP
- Nombre de Tours Surface Mount
- Note 18
- Tension ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
- Couple de serrage - Vis -40°C ~ 85°C
- Largeur 2.7V ~ 3.6V
- Tension alternative maximale 64-LQFP (10x10)