- Modèle de produit SN74ABT8245DWR
- Marque Texas Instruments
- RoHS Yes
- Description IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
- Classification Logique spécialisée
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Inventaire:1500
Détails techniques
- Type de montage 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Nombre de Tours Surface Mount
- Note 8
- Tension Scan Test Device with Bus Transceivers
- Couple de serrage - Vis -40°C ~ 85°C
- Largeur 4.5V ~ 5.5V
- Tension alternative maximale 24-SOIC
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