- 製品型番 SN74LVTH18646APM
- ブランド Texas Instruments
- RoHS Yes
- 説明 IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- 分類 特殊ロジック
在庫:1805
技術的な詳細
- 実装タイプ 64-LQFP
- 巻数 Surface Mount
- 注記 18
- 電圧 ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
- トルク - スクリュー -40°C ~ 85°C
- 幅 2.7V ~ 3.6V
- 最大AC電圧 64-LQFP (10x10)