- Модель продукта SN74ABT18646PM
- Бренд Texas Instruments
- RoHS Yes
- Описание IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
- Классификация Специальность Логика
Инвентаризация:1500
Технические детали
- Тип монтажа 64-LQFP
- Количество витков Surface Mount
- Примечание 18
- Напряжение Scan Test Device With Transceivers And Registers
- Крутящий момент - Винт -40°C ~ 85°C
- Ширина 4.5V ~ 5.5V
- Максимальное переменное напряжение 64-LQFP (10x10)